為減少測(cè)序費(fèi)用和工作量,通常選取圖譜上自身覆蓋范圍大且與鄰近克隆重疊較小的一組克隆,作為候選測(cè)序克隆,如圖1.6所示。在測(cè)序前需對(duì)這些候選測(cè)序克隆,尤其是通過(guò)指紋圖譜篩選得到的克隆的定位正確性進(jìn)行鑒定。常用的鑒定 (共 181 字) [閱讀本文] >>
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 為減少測(cè)序費(fèi)用和工作量,通常選取圖譜上自身覆蓋范圍大且與鄰近克隆重疊較小的一組克隆,作為候選測(cè)序克隆,如圖1.6所示。在測(cè)序前需對(duì)這些候選測(cè)序克隆,尤其是通過(guò)指紋圖譜篩選得到的克隆的定位正確性進(jìn)行鑒定。常用的鑒定 (共 181 字) [閱讀本文] >>