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一種低暗計數(shù)率P-I-N結(jié)構(gòu)的單光子雪崩二極管探測器

光學(xué)學(xué)報 頁數(shù): 6 2024-05-10
摘要: 基于180 nm BCD工藝制備出一種P型注入增強型P-I-N結(jié)構(gòu)的單光子雪崩二極管(SPAD)探測器。采用P型漂移區(qū)與高壓N~+埋層之間的低摻雜濃度P型外延層作為I層深結(jié)雪崩區(qū),提高了近紅外波段的光子探測概率(PDP)。利用低摻雜濃度的P型外延層作為虛擬保護環(huán),防止了器件橫向擊穿,降低了暗計數(shù)率(DCR)。測試結(jié)果表明,虛擬保護環(huán)寬度(GRW)為5μm時,器件雪崩電壓為56 ...

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