基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷檢測(cè)算法

摘要： 針對(duì)液晶屏顯示缺陷中微弱特征缺陷經(jīng)多次卷積與背景紋理同化導(dǎo)致的檢測(cè)精度低的問題，提出了一種基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷檢測(cè)改進(jìn)模型YOLO-Mura。首先，在主干網(wǎng)絡(luò)中引入Involution算子擴(kuò)大感受野，增強(qiáng)在空間范圍內(nèi)的微弱特征缺陷信息，并降低模型的浮點(diǎn)運(yùn)算次數(shù)。其次，采用CARAFE上采樣算子優(yōu)化上采樣方式，加強(qiáng)對(duì)微弱特征缺陷的關(guān)注能力。然后，在頸部網(wǎng)絡(luò)，通過嵌...