基于YOLOv5＿4layers的PCB小目標(biāo)缺陷識(shí)別方法

摘要： 針對(duì)PCB表面缺陷分辨率低、小目標(biāo)性以及多樣性等問題，提出了一種基于YOLOv5＿4layers的PCB小目標(biāo)缺陷識(shí)別方法。該方法在YOLOv5架構(gòu)的基礎(chǔ)上，通過新增采樣層的方式添加小目標(biāo)檢測(cè)層，優(yōu)化特征金字塔模型，提升小目標(biāo)特征提取性能，實(shí)現(xiàn)小目標(biāo)缺陷識(shí)別。在調(diào)整合適的錨框規(guī)格后，改進(jìn)后的模型在輸入640像素×640像素圖像時(shí)，相較原模型識(shí)別精確率提升了7.5%。在輸入736...