基于SimAM-YOLOv5s的PCB缺陷檢測(cè)算法

摘要： 為解決PCB缺陷檢測(cè)存在精度低、檢測(cè)效果差的問題，提出一種基于SimAM-YOLOv5s的PCB缺陷檢測(cè)算法。利用Kmeans++對(duì)錨框進(jìn)行重新聚類，通過添加淺層尺度信息來豐富小目標(biāo)數(shù)據(jù)，提高深層和淺層語義信息的融合能力；將損失函數(shù)修改為SIoU,即引入角度損失來計(jì)算距離損失，以加快網(wǎng)絡(luò)收斂速度，使回歸參數(shù)更加準(zhǔn)確；通過結(jié)合輕量化注意力機(jī)制SimAM為網(wǎng)絡(luò)提供三維的注意力權(quán)重，...