基于LSTM網(wǎng)絡(luò)的IGBT壽命預(yù)測(cè)方法研究

摘要： 針對(duì)IGBT工作時(shí)承受熱應(yīng)力與電應(yīng)力循環(huán)沖擊導(dǎo)致疲勞失效的問(wèn)題，提出一種基于長(zhǎng)短期記憶（LSTM）網(wǎng)絡(luò)的壽命預(yù)測(cè)方法。利用NASA預(yù)測(cè)中心提供的加速老化數(shù)據(jù)集，分析并選取集電極-發(fā)射極的瞬態(tài)尖峰電壓作為失效特征參數(shù)，通過(guò)Matlab構(gòu)建LSTM網(wǎng)絡(luò)，采用Adam優(yōu)化算法來(lái)訓(xùn)練網(wǎng)絡(luò)，實(shí)現(xiàn)對(duì)失效特征參數(shù)數(shù)據(jù)的預(yù)測(cè)，并選取三項(xiàng)性能評(píng)估指標(biāo)與ARIMA模型及ELMAN神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的預(yù)測(cè)...