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一種基于機器學習的眾工藝角延遲預測方法

微電子學 頁數(shù): 7 2024-02-20
摘要: 在不同工藝角下,關鍵路徑呈現(xiàn)顯著差異,因此需要進行大量的靜態(tài)時序分析,從而導致時序分析運行時間較長。與此同時,隨著工藝尺寸的縮小,靜態(tài)時序分析的精度問題變得不容忽視。本文提出一種基于機器學習的適用于眾工藝角下的延遲預測方法,考慮工藝、電壓和溫度對時序的影響,利用基于自注意力Transformer模型對關鍵路徑進行全局聚合編碼,預測眾工藝角下關鍵路徑的統(tǒng)計延遲。在EPFL基準電路...

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