功率器件功率循環(huán)測試技術(shù)的挑戰(zhàn)與分析

摘要： 功率循環(huán)測試被稱為考核功率器件封裝可靠性最重要的實驗，尤其是碳化硅金屬–氧化物半導體場效應(yīng)晶體管(siliconcarbonmetal-oxide-semiconductorfield-effect transistor,Si C MOSFET)功率器件的快速發(fā)展，是近幾年的研究熱點。與其他可靠性測試不同的是，功率循環(huán)測試原理雖然簡單，但測試技術(shù)、測試方法和數(shù)據(jù)處理卻涉及到半導...