高溫超導環(huán)形螺旋導體的磁化損耗研究

摘要： 針對高溫超導線圈的基本結構單元環(huán)形螺旋導體，通過仿真計算分析其磁化損耗特性。首先通過實驗和仿真驗證了三維T-A法的可靠性，研究了不同的環(huán)中心圓半徑、不同的圓管半徑下磁化損耗特性。研究結果表明，隨著環(huán)中心圓半徑的增大，環(huán)形螺旋導體的磁化損耗逐漸增加；隨著圓管半徑的增大，環(huán)形螺旋導體的磁化損耗逐漸減小。