核電子學(xué)與核儀器中多步ADC的測試和校準(zhǔn)

摘要： 針對核電子學(xué)與核儀器中的多步模擬-數(shù)字變換器的測試和校準(zhǔn)進(jìn)行了研究。提出了基于工藝變化監(jiān)測的校準(zhǔn)思想和對于每一級的主要靜態(tài)誤差源即系統(tǒng)判決級偏移誤差、級增益誤差和內(nèi)部參考電壓誤差的雙殘差信號處理方案。針對多級電路的校準(zhǔn)提出了一種基于最速下降法的校準(zhǔn)算法,通過比較估計輸出和期望響應(yīng)實現(xiàn)估計誤差的創(chuàng)建。并針對基于模具級工藝監(jiān)測器和溫度傳感器的工藝變化監(jiān)測提出了兩種估計算法,從而實現(xiàn)...