雙三角形相位光柵X射線干涉儀的條紋可見度

摘要： X射線光柵干涉儀成像需要高條紋可見度以獲得高信噪比圖像.最近的報(bào)道證實(shí), X射線雙矩形相位光柵干涉儀實(shí)驗(yàn)測(cè)量的條紋可見度較低.為此,提出了基于雙三角形相位光柵X射線干涉儀的條紋可見度研究.利用X射線雙相位光柵干涉儀的強(qiáng)度變化規(guī)律,對(duì)比研究了單色照明和不同多色照明下,雙三角形相位光柵X射線干涉儀與雙矩形相位光柵干涉儀的條紋可見度隨光柵間距的變化規(guī)律.結(jié)果表明:無論是單色照明還是多...