使用單能X射線輻射裝置對CdTe探測效率的實驗刻度

摘要： CdTe探測器對單能平行光子源的絕對測量之前，需要進行效率刻度。利用MCNP5蒙特卡羅模擬程序建立CdTe探測器物理模型，模擬計算了10～260 keV能量段能點的本征探測效率，在10～60 keV能量段探測效率高于75%。用單能X射線裝置和HPGe探測器對CdTe探測器本征探測效率進行了實驗刻度。結(jié)果表明，在10～100 keV能量范圍內(nèi)CdTe探測器的模擬效率與實驗效率趨勢...