灰色雙重殘差修正的多芯片組件壽命預(yù)測(cè)
電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào)
頁(yè)數(shù)： 7 2020-05-15
摘要： 針對(duì)利用傳統(tǒng)灰色模型進(jìn)行多芯片組件壽命預(yù)測(cè)時(shí)存在的精度不足,以及預(yù)測(cè)精度隨時(shí)間跨度增加而顯著降低的問(wèn)題,提出馬爾科夫-尾段雙重殘差修正的多芯片組件壽命灰色預(yù)測(cè)方法。
將在灰色GM(1,1)模型預(yù)測(cè)值基礎(chǔ)上經(jīng)馬爾科夫法優(yōu)化后的殘差作為尾段灰色殘差模型的輸入值,實(shí)現(xiàn)雙重殘差修正。 （共7頁(yè)）
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