5.3.1 概述
電子衍襯

        位錯密度是研究材料形變過程和微觀結(jié)構(gòu)對力學(xué)性能影響的重要參數(shù)。測定位錯密度的方法有二,一是X-射線方法,它是根據(jù)位錯密度對X-射線展寬的函數(shù)關(guān)系建立起來的方法。它雖不能在測量時同時看到位錯,但它的結(jié)果反映了一定的    （本文共 488 字 ）    [閱讀本文] >>