3.2.4 精確測定試樣的晶體學(xué)取向^[4、7]
電子衍襯

        晶體學(xué)取向的測定一般包括三種情況:一是試樣在未進(jìn)行傾斜,即處于零傾斜位置時,試樣表面垂直于電子束方向,只要精確測定試樣膜面法線的取向FN即可。應(yīng)該指出,從單晶斑點(diǎn)衍射譜測得的晶帶指數(shù)[uvw]只能有條件地視為試樣表面的    （本文共 900 字 ）    [閱讀本文] >>