TDLAS 又名：中文名可調(diào)諧半導體激光吸收光譜

簡介

　　中文翻譯：可調(diào)諧半導體激光吸收光譜

　　主要部件：可調(diào)諧半導體激光器，目前常用于TDLAS技術的可調(diào)諧半導體激光器包括：法珀（Fabry-Perot）激光器、分布反饋式(Distributed Feedback)半導體激光器、分布布喇格反射（Distributed Bragg reflector）激光器、垂直腔表面發(fā)射（Vertical-cavity surface-emitting）激光器和外腔調(diào)諧半導體激光器。

　　原理

　　TDLAS通常是用單一窄帶的激光頻率掃描一條獨立的氣體吸收線。為了實現(xiàn)最高的選擇性，分析一般在低壓下進行，這時吸收線不會因為壓力而加寬。這種測量方法是Hinkley和Reid提出的，現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展成為了非常靈敏和常用的大氣中痕量氣體的監(jiān)測技術。

　　它的主要特點包括：

　　(1) 高選擇性，高分辨率的光譜技術，由于分子光譜的“指紋”特征，它不受其它氣體的干擾。這一特性與其它方法相比有明顯的優(yōu)勢。

　　(2) 它是一種對所有在紅外有吸收的活躍分子都有效的通用技術，同樣的儀器可以方便的改成測量其它組分的儀器，只需要改變激光器和標準氣。由于這個特點，很容易就能將其改成同時測量多組分的儀器。

　　(3) 它具有速度快，靈敏度高的優(yōu)點。在不失靈敏度的情況下，其時間分辨率可以在ms量級。應用該技術的主要領域有：分子光譜研究、工業(yè)過程監(jiān)測控制、燃燒過程診斷分析、發(fā)動機效率和機動車尾氣測量、爆炸檢測、大氣中痕量污染氣體監(jiān)測等。

　　用途

　　(1)獲得分子結構的信息，(2)研究其動力學過程，(3)痕量氣體監(jiān)測分析。

　　國內(nèi)外研究狀況：

　　國外研究的較早，廣泛用在痕量氣體的檢測，溫室氣體通量的監(jiān)測等方面。

　　國內(nèi)主要是90年代末期開始，發(fā)展較快，特別是近十年來，以中科院安徽光學精密研究所、中科院半導體所為代表的國內(nèi)科研機構，在環(huán)境監(jiān)測，生態(tài)測量等方面，出了很多研究成果。